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復制成功
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貨號 | 操作 | 名稱 | 描述 |
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圖片 | 名稱 | 貨號貨期 | 描述 | 價格 |
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三維無損成像技術在材料科學和醫(yī)學等許多應用領域都非常重要。我們開發(fā)了一種成像技術,利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。
例如,我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。
在下邊的圖片中,你可以看到幾個埋在硅下的金層。它們的位置可以用我們的計量儀測量,精度低于1nm。這些層位于表面下的110 nm和128 nm處。
關鍵信息
● 無損成像
● 反射成像
● 軸向分辨率(厚度)<30nm
● 軸向位置精度<1nm
● Max深度<1μm
● 高材料對比度
● 易于安裝樣品